О наших разработках
Проект по распознаванию дефектов в полупроводниковой промышленности, применяющий методы глубокого обучения и машинного зрения.
Для решения этой задачи применяется архитектура сверточной нейронной сети, что позволяет эффективно проводить анализ полученных изображений.
Данный проект представляет собой решение в области полупроводниковой промышленности, объединяющее технологии глубокого обучения и практические задачи автоматизации контроля качества.