Наша компания предлагает передовые решения для повышения точности и эффективности инспекции полупроводниковых пластин.
Ниже приведены подробности по каждому из направлений, представленных ранее.
Наши разработки в области глубокого обучения направлены на создание моделей, способных с высокой точностью и скоростью обнаруживать и классифицировать дефекты на полупроводниковых пластинах. Мы используем технологии машинного зрения и сверточные нейронные сети (CNN) для анализа изображений и автоматизации процесса инспекции.
Наш аппаратный стенд включает в себя оптические и механические компоненты, обеспечивающие высокое качество получаемых изображений. Управляющее программное обеспечение позволяет точно настраивать параметры освещения и фокусировки, что значительно улучшает результаты последующего анализа и повышает эффективность обнаружения дефектов.
В рамках текущих исследований мы изучаем и разрабатываем новые источники излучения, которые позволяют улучшить контраст и чёткость изображений. Это напрямую влияет на качество работы систем машинного зрения и повышает надёжность выявления микроскопических дефектов на кремниевых пластинах.
Наши плазменные источники света обеспечивают высокое качество изображения, позволяя детально рассмотреть микроскопические дефекты.
Технологии искусственного интеллекта автоматически выявляют и классифицируют дефекты на поверхности пластин, что ускоряет процесс инспекции.
Решения легко интегрируются в существующие производственные линии, минимизируя простои и затраты на модернизацию.
Мы предоставляем обучение и техническую поддержку, помогая клиентам максимально эффективно использовать наши решения.
Использование наших технологий позволяет повысить качество выпускаемой продукции и снизить процент брака.
Внедрение наших решений способствует оптимизации производственных процессов, повышению производительности и снижению затрат.
Если у вас есть вопросы или вы хотите получить дополнительную информацию — свяжитесь с нами удобным способом.